| Al—Li合金中缺陷和电子密度的正电子寿命谱 |
| 吴伟明; 高英俊; 邓文; 罗里熊; 许少杰; 钟夏平; 蒋晓军
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| 1997
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| 发表期刊 | 中国有色金属学报
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| ISSN | 1004-0609
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| 卷号 | 7.0期号:004页码:123-126 |
| 摘要 | 在深低温在室温同温度下，测量了不同时效状态的Ａｌ－Ｌｉ－Ｃｕ－Ｍｇ－Ｚｒ合金和含Ｚｎ、Ａｇ或Ｓｃ的合金的正电子寿命谱。分析表明；峰值时效使热空位大量回复并使基体电子密度提高。 |
| 关键词 | 正电子寿命谱
缺陷
铝合金
电子密度
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| 收录类别 | CSCD
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| 语种 | 中文
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| CSCD记录号 | CSCD:412849
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| 引用统计 |
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/144502
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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| 作者单位 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
吴伟明,高英俊,邓文,等. Al—Li合金中缺陷和电子密度的正电子寿命谱[J]. 中国有色金属学报,1997,7.0(004):123-126.
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| APA |
吴伟明.,高英俊.,邓文.,罗里熊.,许少杰.,...&蒋晓军.(1997).Al—Li合金中缺陷和电子密度的正电子寿命谱.中国有色金属学报,7.0(004),123-126.
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| MLA |
吴伟明,et al."Al—Li合金中缺陷和电子密度的正电子寿命谱".中国有色金属学报 7.0.004(1997):123-126.
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