| 低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构 | |
| 詹倩; 于荣; 贺连龙; 李斗星; 郭晓楠 | |
| 2001 | |
| Source Publication | 金属学报
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| ISSN | 0412-1961 |
| Volume | 37.0Issue:004Pages:337-339 |
| Abstract | 成功地制务了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品，并对其微观结构进行TEM，HREM及纳米束EDS分析，结果表明，薄膜各层厚度均匀，界面明锐、光滑。Ag层由纳米晶组成，而TiO2和SiO层为非晶。Ag在膜层中没有扩散或聚团，这也正是保证整个薄膜性能指标的一一个重要因素。 |
| Keyword | 低辐射薄膜 微观结构 HREM 纳米束分析 |
| Indexed By | CSCD |
| Language | 中文 |
| CSCD ID | CSCD:675805 |
| Citation statistics |
Cited Times:7[CSCD]
[CSCD Record]
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| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/151342 |
| Collection | 中国科学院金属研究所 |
| Affiliation | 中国科学院金属研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 詹倩,于荣,贺连龙,等. 低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报,2001,37.0(004):337-339. |
| APA | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,&郭晓楠.(2001).低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构.金属学报,37.0(004),337-339. |
| MLA | 詹倩,et al."低辐射薄膜TiO2—Ag—TiO2—SiO的纳米尺度显微结构".金属学报 37.0.004(2001):337-339. |
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