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择优取向氮掺杂氧化铟薄膜的制备及其光电性能
孙辉1; 沈龙海1; 刘子童1,2; 陈建金1; 张芮馨1
2023
发表期刊硅酸盐学报
ISSN0454-5648
卷号51期号:01期页码:145-151
摘要为探索氧化铟基半导体薄膜择优取向的控制生长策略,并探究晶面取向对光电性能的影响,采用磁控溅射技术在石英(SiO2)衬底上分别制备了具有(222)和(440)晶面择优取向的氮掺杂氧化铟(In2O3:N)薄膜,利用X射线衍射仪、扫描电子显微镜、X射线光电子能谱仪、紫外–可见分光光度计对In2O3:N薄膜的晶体结构、表面形貌、元素组成、光学带隙进行了表征,并研究了不同择优取向薄膜的光电特性。结果表明:不同择优取向In2O3:N薄膜的氮掺杂均以替位式为主,氮掺杂会导致氧化铟的禁带宽度减小至2.89 eV。相比(222)晶面择优取向,(440)晶面择优取向的In2O3:N薄膜的光响应时间更短。
关键词氮掺杂氧化铟 磁控溅射 择优取向 光电探测
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/179572
专题中国科学院金属研究所
作者单位1.沈阳理工大学理学院
2.中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
孙辉,沈龙海,刘子童,等. 择优取向氮掺杂氧化铟薄膜的制备及其光电性能[J]. 硅酸盐学报,2023,51(01期):145-151.
APA 孙辉,沈龙海,刘子童,陈建金,&张芮馨.(2023).择优取向氮掺杂氧化铟薄膜的制备及其光电性能.硅酸盐学报,51(01期),145-151.
MLA 孙辉,et al."择优取向氮掺杂氧化铟薄膜的制备及其光电性能".硅酸盐学报 51.01期(2023):145-151.
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