| 激光脉冲法研究半透明PI/SiO_2薄膜的热扩散率 |
| 陈新贵; 郭敬东; 王宝全; 何冠虎
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| 2009-04-15
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| 发表期刊 | 高分子材料科学与工程
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| 期号 | 4页码:109-111+115 |
| 摘要 | 激光脉冲法在应用于测量对实验探测波段红外线半透明的材料热扩散率时遇到了困难。文中提出了新的解决办法:即通过对理论探测曲线进行分析,并通过在实际探测曲线上的升温幅度和特征点计算得到了热扩散率,成功地解决了这一难题。在-73℃~290℃的范围内获得了对激光和红外线都是半透明的聚酰亚胺(PI)薄膜的热扩散率,并研究了室温下PI/SiO2复合材料的热扩散率随SiO2含量的变化规律。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室;
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| 关键词 | 激光脉冲法
半透明材料
热扩散率
Pi/sio2复合材料
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24140
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
陈新贵,郭敬东,王宝全,等. 激光脉冲法研究半透明PI/SiO_2薄膜的热扩散率[J]. 高分子材料科学与工程,2009(4):109-111+115.
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| APA |
陈新贵,郭敬东,王宝全,&何冠虎.(2009).激光脉冲法研究半透明PI/SiO_2薄膜的热扩散率.高分子材料科学与工程(4),109-111+115.
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| MLA |
陈新贵,et al."激光脉冲法研究半透明PI/SiO_2薄膜的热扩散率".高分子材料科学与工程 .4(2009):109-111+115.
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