| 316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析 |
| 刘超; 郑士建; 张波; 马秀良
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| 2008-08-15
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | 4页码:300-305 |
| 摘要 | 本文利用透射电子显微术,研究了SUS 316F不锈钢中MnS夹杂的结构和缺陷,发现并确定了MnS中的一种(Cr,Mn,Ti,V)O氧化物颗粒所属物相,并利用扫描透射电子显微镜(STEM)结合X射线能量色散谱(EDS),对MnS和不锈钢界面及MnS和氧化物颗粒的界面进行了成分分析,表明在MnS和不锈钢界面处不存在贫Cr区,在部分MnS和氧化物界面存在一层厚度为10 nm以下的氧化硅非晶层。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室;
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| 关键词 | 电子显微学
316f不锈钢
点蚀
硫化锰
氧化物
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24356
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
刘超,郑士建,张波,等. 316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析[J]. 电子显微学报,2008(4):300-305.
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| APA |
刘超,郑士建,张波,&马秀良.(2008).316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析.电子显微学报(4),300-305.
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| MLA |
刘超,et al."316F不锈钢中MnS夹杂的电子显微学分析".电子显微学报 .4(2008):300-305.
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