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一种测量硬质薄膜残余应力的新方法
赵升升; 华伟刚; 杜昊; 宫骏; 孙超; 李家宝
2008-01-11
发表期刊金属学报
期号1页码:125-128
摘要提出了一种测量硬质薄膜残余应力的新方法——剥层曲率半径法,并设计了一套光杠杆系统,可以精确测量镀膜样品因薄膜存在残余应力而造成试片弯曲的曲率半径,从而计算出薄膜的残余应力.通过对仪器测量误差的考察和电弧离子镀(Ti,Al)N薄膜残余应力的测定,证明了该方法的有效性.
部门归属中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所 沈阳 110016,沈阳 110016,沈阳 110016,沈阳 110016,沈阳 110016,沈阳 110016
关键词硬质薄膜 残余应力 测量方法 剥层曲率半径法
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24528
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
赵升升,华伟刚,杜昊,等. 一种测量硬质薄膜残余应力的新方法[J]. 金属学报,2008(1):125-128.
APA 赵升升,华伟刚,杜昊,宫骏,孙超,&李家宝.(2008).一种测量硬质薄膜残余应力的新方法.金属学报(1),125-128.
MLA 赵升升,et al."一种测量硬质薄膜残余应力的新方法".金属学报 .1(2008):125-128.
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