| 孪晶片层尺寸对孪晶形变行为的影响 |
| 卢秋虹; 隋曼龄; 李斗星
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| 2006-12-30
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | S1页码:140-141 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室 辽宁沈阳110016,沈阳建筑大学理学院,辽宁沈阳110168,辽宁沈阳110016,辽宁沈阳110016
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| 关键词 | 孪晶结构:6008
孪晶界:5008
形变行为:3776
片层结构:3005
尺寸对:2110
纳米:1833
片层厚度:1696
电解沉积:1493
大角晶界:1171
超细:1103
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24856
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
卢秋虹,隋曼龄,李斗星. 孪晶片层尺寸对孪晶形变行为的影响[J]. 电子显微学报,2006(S1):140-141.
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| APA |
卢秋虹,隋曼龄,&李斗星.(2006).孪晶片层尺寸对孪晶形变行为的影响.电子显微学报(S1),140-141.
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| MLA |
卢秋虹,et al."孪晶片层尺寸对孪晶形变行为的影响".电子显微学报 .S1(2006):140-141.
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