正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni_3Al中扩散行为的影响

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	正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni_3Al中扩散行为的影响
	郭建亭; 李玉芳; 熊良钺
	2005-12-10
发表期刊	核技术
期号	12 页码:909-912
摘要	测量了在Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化处理后,在空冷和水冷条件下的正电子寿命谱。结果表明,Ni3Al(Zr)合金经高温均匀化后,随即进行空冷时,随着Zr含量的增加,正电子在合金中的寿命谱特征参数降低,捕获率K降低。表明Zr原子扩散到晶界,并在晶界偏聚。而合金经高温均匀化后水冷时,合金的正电子寿命谱特征参数随着Zr含量的增加几乎没有变化。由于冷却速度较快,Zr原子来不及扩散到晶界上,而以固溶方式存在于Ni3Al基体中。
部门归属	中国科学院金属研究所高温合金研究部,中国科学院金属研究所高温合金研究部,中国科学院金属研究所高温合金研究部沈阳110016,沈阳110016,沈阳110016
关键词	正电子湮没 Ni3al Zr 水冷空冷扩散
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25202
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	郭建亭,李玉芳,熊良钺. 正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni_3Al中扩散行为的影响[J]. 核技术,2005(12):909-912.
APA	郭建亭,李玉芳,&熊良钺.(2005).正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni_3Al中扩散行为的影响.核技术(12),909-912.
MLA	郭建亭,et al."正电子湮没技术测量冷却方式对Zr在Ni_3Al中扩散行为的影响".核技术 .12(2005):909-912.