| Zn/ZnO纳米电缆的制备及电子显微分析 |
| 李英,马秀良
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| 2004-12-25
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | 6页码:609-612 |
| 摘要 | 利用X射线衍射仪(XRD)、X射线能谱仪(EDS)、扫描电子显微镜(SEM)以及透射电子显微镜(TEM)等实验手段对热蒸发ZnO粉末产物的形貌、组成成分、两种相的取向关系以及微观结构进行了表征。结果表明:实验所得到的制备产物由Zn ZnO纳米电缆组成,电缆的直径在50～200nm之间而长度可达几百微米。电缆由单质Zn组成的芯和由ZnO组成的外壳组成。两相具有两种比较固定的取向关系[1120]Zn [1120]ZnO和[0001]Zn [0001]ZnO。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室 辽宁沈阳110016 ,辽宁沈阳110016
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| 关键词 | 氧化锌
纳米电缆
热蒸发
取向关系
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25525
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
李英,马秀良. Zn/ZnO纳米电缆的制备及电子显微分析[J]. 电子显微学报,2004(6):609-612.
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| APA |
李英,马秀良.(2004).Zn/ZnO纳米电缆的制备及电子显微分析.电子显微学报(6),609-612.
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| MLA |
李英,马秀良."Zn/ZnO纳米电缆的制备及电子显微分析".电子显微学报 .6(2004):609-612.
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