| 传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响 |
| 孙秋霞,张鉴清,林薇薇
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| 2004-11-11
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| 发表期刊 | 金属学报
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| 期号 | 11页码:1205-1209 |
| 摘要 | 根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法,探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用.CR电路拟合稳定性较高,对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律,导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响.对于阻挡性不完整的薄涂层,在一定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f*变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关,但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化,并解释了其原因. |
| 部门归属 | 浙江大学化学系,浙江大学化学系,浙江大学高分子系 杭州 310013 韶关学院化学系,韶关 512005,杭州 310013中国科学院金属研究所金属腐蚀与防护国家重点实验室,沈阳 110016,杭州 310013
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| 关键词 | 阻抗谱
传输线
涂层厚度
阻挡性
粘结力
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25558
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
孙秋霞,张鉴清,林薇薇. 传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响[J]. 金属学报,2004(11):1205-1209.
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| APA |
孙秋霞,张鉴清,林薇薇.(2004).传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响.金属学报(11),1205-1209.
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| MLA |
孙秋霞,张鉴清,林薇薇."传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响".金属学报 .11(2004):1205-1209.
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