| TiN/MgO(001)界面结构研究 | |
| 陈东,马秀良 | |
| 2004-08-25 | |
| 发表期刊 | 电子显微学报
 |
| 期号 | 4页码:404 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家实验室,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家实验室 辽宁沈阳110016,辽宁沈阳110016 |
| 关键词 | 界面结构:8902 赝势方法:1784 第一原理:1733 电子结构:1706 高分辨像:1706 显微结构:1634 Tin薄膜:1453 高分辨电子显微像:1185 高分辨电子显微镜:1147 薄膜材料:1113 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25630 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈东,马秀良. TiN/MgO(001)界面结构研究[J]. 电子显微学报,2004(4):404. |
| APA | 陈东,马秀良.(2004).TiN/MgO(001)界面结构研究.电子显微学报(4),404. |
| MLA | 陈东,马秀良."TiN/MgO(001)界面结构研究".电子显微学报 .4(2004):404. |
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