| NiAl超塑性变形的正电子寿命研究 |
| 杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺
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| 2002-12-25
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| 发表期刊 | 材料研究学报
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| 期号 | 6页码:625-628 |
| 摘要 | 研究了B2型多晶NiAl的晶界结构对缺陷态正电子寿命的影响,并结合正电子谱探讨了热挤压及超塑性变形过程后的晶界结构.热挤压后的NiAl合金具有完全的再结晶组织,而超塑性变形过程中的动态回复和再结晶是一种不完全再结晶过程,所得到的晶界仍属于亚晶界或小角度晶界范畴,再结晶晶界在超塑性变形过程中不产生滑动. |
| 部门归属 | 哈尔滨工业大学,中国科学院金属研究所,哈尔滨工业大学,中国科学院金属研究所 中国科学院金属研究所
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| 关键词 | Nial
超塑性
正电子寿命
晶界结构
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26295
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺. NiAl超塑性变形的正电子寿命研究[J]. 材料研究学报,2002(6):625-628.
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| APA |
杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺.(2002).NiAl超塑性变形的正电子寿命研究.材料研究学报(6),625-628.
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| MLA |
杜兴蒿,郭建亭,周彼德,熊良钺."NiAl超塑性变形的正电子寿命研究".材料研究学报 .6(2002):625-628.
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