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电弧离子镀中不同偏压模式对TiN薄膜形貌的影响
黄美东,孙超,董闯,黄荣芳,闻立时
2001-07-15
发表期刊真空
期号3页码:36-38
摘要用扫描电子显微镜观察了电弧离子镀中各种不同偏压模式 :不加偏压、加不同直流偏压和加幅值相同但占空比不同的脉冲偏压情况下获得的 Ti N薄膜的表面形貌。结果表明 ,脉冲偏压可以大大减小膜表面的大颗粒尺寸和数量 ,显著改善表面形貌。
部门归属大连理工大学三束材料改性国家重点实验室!辽宁大连116024,中国科学院金属研究所,辽宁沈阳110016,中国科学院金属研究所!辽宁沈阳110016,大连理工大学三束材料改性国家重点实验室!辽宁大连116024,中国科学院金属研究所!辽宁沈阳110016,中国科学院金属研究所!辽宁沈阳110016
关键词电弧离子镀 Tin 脉冲偏压 薄膜形貌
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26906
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
黄美东,孙超,董闯,黄荣芳,闻立时. 电弧离子镀中不同偏压模式对TiN薄膜形貌的影响[J]. 真空,2001(3):36-38.
APA 黄美东,孙超,董闯,黄荣芳,闻立时.(2001).电弧离子镀中不同偏压模式对TiN薄膜形貌的影响.真空(3),36-38.
MLA 黄美东,孙超,董闯,黄荣芳,闻立时."电弧离子镀中不同偏压模式对TiN薄膜形貌的影响".真空 .3(2001):36-38.
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