脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂 李志成,刘路,吴昕,贺连龙,徐永波
2001-05-28
发表期刊 金属学报
期号 5 页码: 503-506 摘要 利用低载荷Ｖｉｃｋｅｒｓ压痕的方法在ＧａＡｓ单晶中诱发微裂纹，通过透射电子显微镜和高分辨电子显微镜对裂纹尖端进行了观察．结果表明，裂纹尖端前沿诱发了位错；沿着裂纹扩展方向出现了晶格扭曲，进而产生局部的无序化结构；无序化结构的扩大与连接形成具有１－２ｎｍ宽度的非晶窄带．裂纹在非晶窄带中萌生，并沿着非晶带扩展．弯曲的裂纹表面和具有一定宽度的裂纹尖端说明，裂纹的扩展并不是沿着某特定的原子面原子键脱开，而是在非晶窄带中由结合键较弱的原子之间的断键并相互连接的结果． 部门归属 中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室!沈阳110016,Department of Mechanical and Engineering,Wayne state University! MI 48202, USA,中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室!沈阳110016,中国
关键词 Gaas单晶
低载荷压痕
裂纹尖端与裂纹扩展
电子显微技术
文献类型 期刊论文
条目标识符 http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26965
专题 中国科学院金属研究所 推荐引用方式 GB/T 7714
李志成,刘路,吴昕,贺连龙,徐永波. 脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂[J]. 金属学报,2001(5):503-506.
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李志成,刘路,吴昕,贺连龙,徐永波.(2001).脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂.金属学报 (5),503-506.
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李志成,刘路,吴昕,贺连龙,徐永波."脆性材料中的微裂纹尖端结构与断裂".金属学报 .5(2001):503-506.
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