低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构 | |
詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠 | |
2001-04-28 | |
Source Publication | 金属学报
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Issue | 4Pages:337-339 |
Abstract | 成功地制备了 TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品,并对其微观结构进行 TEM, HREM及纳米束 EDS分析结果表明,薄膜各层厚度均匀,界面明锐、光滑 Ag层由纳米晶组成,而 TiO2和 SiO层为非晶 Ag在膜层中没有扩散或聚团,这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素 |
description.department | 中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳110016,上海交通大学材料学院!上海200030 |
Keyword | 低辐射薄膜 微观结构 Hrem 纳米束分析 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/26988 |
Collection | 中国科学院金属研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠. 低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构[J]. 金属学报,2001(4):337-339. |
APA | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠.(2001).低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构.金属学报(4),337-339. |
MLA | 詹倩,于荣,贺连龙,李斗星,郭晓楠."低辐射薄膜TiO_2-Ag-TiO_2-SiO的纳米尺度显微结构".金属学报 .4(2001):337-339. |
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