材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望

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	材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望
	李斗星
	2000-04-25
发表期刊	电子显微学报
期号	2 页码:81-103
摘要	本文综述了材料科学中的高分辨电子显微学发展历史、现状与展望。重点讨论了在高分辨电子显微学中能直接观察物质中原子排列的直接成像法 ,能区分原子种类的选择成像法、能量过滤选择成像法和 Z-衬度像 ,能研究物质结构变化动态过程的分辨时间高分辨电子显微学 ,能定量地分析物质结构的定量高分辨电子显微学和遥控电子显微术的发展以及其在材料科学中的应用和展望
部门归属	中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳市110015
关键词	原子尺度分辨率电子显微学新相缺陷晶界结构表征图像处理
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27281
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	李斗星. 材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望[J]. 电子显微学报,2000(2):81-103.
APA	李斗星.(2000).材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望.电子显微学报(2),81-103.
MLA	李斗星."材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望".电子显微学报 .2(2000):81-103.