| 软X射线质量吸收系数的测定 |
| 尚玉华,刘志东,徐乐英
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| 1999-12-25
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| 发表期刊 | 材料研究学报
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| 期号 | 6页码:621-626 |
| 摘要 | 制备了厚度为25～225nm的C、Al、Ti、Cu、Nb、Mo、Ag、Ta和W9种纯元素薄膜样品，用化学分析方法测定了薄膜的质量厚度pz，并用电子探针测定了软X射线CKα、BKα的出射强度几和穿过薄膜后的强度I根据X射线通过物质时的指数衰减定律：I／I0＝e－μpz得到了这9种纯元素对CKα、BKα辐射的质量吸收系数μ，并与以往的数据进行比较 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
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| 关键词 | 质量吸收系数
软x射线
薄膜
质量厚度
电子探针
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27356
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
尚玉华,刘志东,徐乐英. 软X射线质量吸收系数的测定[J]. 材料研究学报,1999(6):621-626.
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| APA |
尚玉华,刘志东,徐乐英.(1999).软X射线质量吸收系数的测定.材料研究学报(6),621-626.
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| MLA |
尚玉华,刘志东,徐乐英."软X射线质量吸收系数的测定".材料研究学报 .6(1999):621-626.
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