| 高分辨率定量电子显微学 | |
| 李斗星 | |
| 1998-10-25 | |
| 发表期刊 | 电子显微学报
 |
| 期号 | 5页码:9-12 |
| 摘要 | 本文将在综述高分辨率定量电子显微学及相关技术发展现状的基础上，讨论材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟对比研究的意义及影响高分辨率定量电子显微学测量结果的几种因素的研究现状。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室 |
| 关键词 | 定量高分辨电子显微学:4697 高分辨像:4419 高分辨率:4225 电子结构:3140 三级像散:3023 原子结构:2653 对比研究:2199 透射电子显微镜:1860 原子尺度:1788 薄膜效应:1732 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27595 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李斗星. 高分辨率定量电子显微学[J]. 电子显微学报,1998(5):9-12. |
| APA | 李斗星.(1998).高分辨率定量电子显微学.电子显微学报(5),9-12. |
| MLA | 李斗星."高分辨率定量电子显微学".电子显微学报 .5(1998):9-12. |
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