高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用

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	高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用
	李斗星
	1998-10-15
发表期刊	材料研究学报
期号	5 页码:449-464
摘要	本文综述了与高分辨率定量电子显微学有关的电子显微镜和相关技术、电子显微术的发展现状及展望、材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟综合对比研究以及电镜的三级像散、彗差和薄膜效应等因素影响定量高分辨电子显微学测量结果的研究现状．
部门归属	中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳市，110015
关键词	定量高分辨电子显微学定量会聚束电子衍射三级像散慧差原子尺度直接观察与模拟
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27611
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	李斗星. 高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用[J]. 材料研究学报,1998(5):449-464.
APA	李斗星.(1998).高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用.材料研究学报(5),449-464.
MLA	李斗星."高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用".材料研究学报 .5(1998):449-464.