| 高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法 |
| 兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星
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| 1998-02-25
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | 1页码:76-81 |
| 摘要 | 本文通过研究高分辨电子显微像的图像处理技术，系统地建立了两种高分辨原子像亮点中心精确定位的处理方法：灰度梯度检测法和峰谷提取－灰度平均法。基于原子像亮点中心定位技术，使用最小二乘法，建立了测量高分辨像中局部点阵参数和晶格畸变的实际处理过程。结合像模拟、图像匹配等手段，详细研究了从高分辨像中提取元素分布、原子结构等信息的定量分析方法；并建立了一套ＵＮＩＸ平台上的高分辨像定量分析程序包，具有较高的精度和广泛的用途。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室
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| 关键词 | 高分辨电子显微像
点阵畸变
定量分析
图像处理
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27738
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星. 高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法[J]. 电子显微学报,1998(1):76-81.
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| APA |
兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星.(1998).高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法.电子显微学报(1),76-81.
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| MLA |
兰建章,王绍青,谢天生,于瀛大,孟祥敏,李斗星."高分辨电子显微像的定量分析与应用 I.基于图像处理的高分辨像定量分析方法".电子显微学报 .1(1998):76-81.
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