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不同P含量DZ17G合金的正电子寿命谱
王淑荷,熊良钺,李辉,邓文,郭建亭
1998-02-10
发表期刊核技术
期号2页码:113-116
摘要用正电子湮没技术研究了不同P含量的DZ17G合金的正电子寿命谱。结果表明,当合金中P含量≥0.03wt%时,形成金属键的自由电子密度明显下降,其缺陷浓度明显增加,从而使合金力学性能下降,当P含量≤0.015wt%时,合金的体电子浓度变化不大,对合金性能影响较小。认为从不同P含量对合金缺陷组态和电子结构的影响出发,控制DZ17G合金的P含量≤0.015wt%是必要的
部门归属中国科学院金属研究所
关键词正电子寿命谱 高温合金
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27753
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王淑荷,熊良钺,李辉,邓文,郭建亭. 不同P含量DZ17G合金的正电子寿命谱[J]. 核技术,1998(2):113-116.
APA 王淑荷,熊良钺,李辉,邓文,郭建亭.(1998).不同P含量DZ17G合金的正电子寿命谱.核技术(2),113-116.
MLA 王淑荷,熊良钺,李辉,邓文,郭建亭."不同P含量DZ17G合金的正电子寿命谱".核技术 .2(1998):113-116.
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