| 表面的高分辨电子显微平面像的模拟 |
| 李树有,关若男,李日升,叶恒强
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| 1997-06-25
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | 3页码:19-30 |
| 摘要 | 本文全面讨论了多层法用于表面的高分辨电子显微平面像模拟计算中的各种影响因素以及需要注意的技术细节。包括光阑大小、欠焦量、样品厚度、色差与束发散度、吸收系数等的影响，为今后进一步利用这种方法在原子水平上对表面结构进行观测提供了有用的结果 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室
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| 关键词 | 高分辨电子显微学
表面正面成像法
多层法模拟计算
成像条件
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27848
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
李树有,关若男,李日升,叶恒强. 表面的高分辨电子显微平面像的模拟[J]. 电子显微学报,1997(3):19-30.
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| APA |
李树有,关若男,李日升,叶恒强.(1997).表面的高分辨电子显微平面像的模拟.电子显微学报(3),19-30.
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| MLA |
李树有,关若男,李日升,叶恒强."表面的高分辨电子显微平面像的模拟".电子显微学报 .3(1997):19-30.
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