| 强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究 |
| 弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼
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| 1997-06-25
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| 发表期刊 | 光谱学与光谱分析
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| 期号 | 3页码:65-69 |
| 摘要 | 文中所述的研究用实验室组装的强短脉冲供电辉光放电发射光谱（ＨＣＭＳＰＧＤ－ＯＥＳ）实验系统，对铜基合金中的次要组分Ｎｉ、Ａｌ、Ｍｎ、Ｓｉ的含量进行了测定。辉光放电（ＧＤ）源在强短脉冲供电（ＨＣＭＳＰ）时，原子线和离子线的发射得到增强。文中选用了Ｎｉ、Ａｌ、Ｍｎ、Ｓｉ的次灵敏线作分析线，对影响分析线强度的因素进行了研究，在选定的实验条件下对几种组分的含量进行了测定，测定结果与样品的推荐值吻合较好。六次测定的相对标准偏差为Ｎｉ２．６６％，Ａｌ１．００％，Ｍｎ２．１７％，Ｓｉ６．０２％ |
| 部门归属 | 厦门大学化学系,中国科学院金属研究所
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| 关键词 | 强短脉冲供电
辉光放电
发射光谱
铜基合金
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27852
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼. 强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究[J]. 光谱学与光谱分析,1997(3):65-69.
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| APA |
弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼.(1997).强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究.光谱学与光谱分析(3),65-69.
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| MLA |
弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼."强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究".光谱学与光谱分析 .3(1997):65-69.
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