| 金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论 | |
| 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪 | |
| 1996-04-18 | |
| Source Publication | 金属学报
 |
| Issue | 4Pages:404-408 |
| Abstract | 利用有效媒质理论描述了金属薄膜形成过程中电导率变化规律，与实验测得的Ａｌ薄膜形成过程中电导率变化结果比较接近．分析和讨论了一些影响计算结果准确性的因素． |
| description.department | 中国科学院金属研究所 |
| Keyword | 薄膜 电导率 有效媒质理论 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28043 |
| Collection | 中国科学院金属研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪. 金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论[J]. 金属学报,1996(4):404-408. |
| APA | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪.(1996).金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论.金属学报(4),404-408. |
| MLA | 曹晓晖,唐兆麟,黄荣芳,闻立时,师昌绪."金属薄膜形成过程中电导特性变化的有效媒质理论".金属学报 .4(1996):404-408. |
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