| 圆筒和圆柱残余应力沿层深分布的X射线测定 |
| 李家宝,康增桥,王中光
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| 1995-06-30
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| 发表期刊 | 应用力学学报
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| 期号 | 2页码:107-110 |
| 摘要 | 在圆筒或圆柱的剥层Ｘ射线应力测定中，可以用幂级数来分段近似剥离面的实测切向应力一层深函数和实测轴向应力一层深函数，从而计算剥层应力释放所产生的附加应力，求得原始的真实径向、切向和轴向应力沿半径方向的分布，文中给出计算应力校正量的公式。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所
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| 关键词 | 剥层
X射线应力测定
幂级数校正
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28192
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
李家宝,康增桥,王中光. 圆筒和圆柱残余应力沿层深分布的X射线测定[J]. 应用力学学报,1995(2):107-110.
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| APA |
李家宝,康增桥,王中光.(1995).圆筒和圆柱残余应力沿层深分布的X射线测定.应用力学学报(2),107-110.
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| MLA |
李家宝,康增桥,王中光."圆筒和圆柱残余应力沿层深分布的X射线测定".应用力学学报 .2(1995):107-110.
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