| 突变型PTC元件电阻温度系数的测试 | |
| 张喜哲,何青,肖连芳 | |
| 1994-12-28 | |
| Source Publication | 电子元件与材料
 |
| Issue | 6Pages:27-30 |
| Abstract | 目前突变型ＰＴＣ元件电阻温度系数的测量方法各种各样，因此测试结果缺乏唯一性和可比性。根据国际和国家标准对电阻温度系数的定义，结合ＰＴＣ材料的生产和使用的实际情况，提出了一种较为可行的测试方法。 |
| description.department | 中科院金属研究所，深圳金科公司 |
| Keyword | 突变型ptc元件 电阻温度系数 测试方法 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28297 |
| Collection | 中国科学院金属研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 张喜哲,何青,肖连芳. 突变型PTC元件电阻温度系数的测试[J]. 电子元件与材料,1994(6):27-30. |
| APA | 张喜哲,何青,肖连芳.(1994).突变型PTC元件电阻温度系数的测试.电子元件与材料(6),27-30. |
| MLA | 张喜哲,何青,肖连芳."突变型PTC元件电阻温度系数的测试".电子元件与材料 .6(1994):27-30. |
| Files in This Item: | There are no files associated with this item. | |||||
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment