| 表面离化函数Φ（0）的研究 | |
| 郭延风,徐乐英 | |
| 1994-08-25 | |
| 发表期刊 | 电子显微学报
 |
| 期号 | 4页码:287-290 |
| 摘要 | 用试验方法测定了不同衬底材料上各种薄膜的表面离化函数Φ（０），并与Φ（０）的计算值加以比较。在计算中引入了一个有效的电子背散射系数，代表了衬底，薄膜原子序数不同时对Φ（０）的综合效应。在此基础上，详细讨论了Φ（０）值与衬底、薄膜二者的电子背散射系数，以及薄膜质量厚度的关系。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所结构分析室 |
| 关键词 | 表面离化函数 电子背散射系数 质量厚度 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28387 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭延风,徐乐英. 表面离化函数Φ（0）的研究[J]. 电子显微学报,1994(4):287-290. |
| APA | 郭延风,徐乐英.(1994).表面离化函数Φ（0）的研究.电子显微学报(4),287-290. |
| MLA | 郭延风,徐乐英."表面离化函数Φ（0）的研究".电子显微学报 .4(1994):287-290. |
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