| 一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法 |
| 陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎
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| 1994-04-15
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| 发表期刊 | 真空科学与技术
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| 期号 | 2页码:103-106 |
| 摘要 | 通过XPS分析与Ar~+刻蚀相结合的方法，测量了Fe_(50)Pd_(50)合金超微粒子（UFP）的表面氧化层厚度，发现它的表面氧化层为1．4um厚，小于电镜观察到的表面非晶层厚度，表明此方法测量的表面氧化层厚度不受表面吸附层的影响，并且能直接了解UFP表面的具体氧化状态。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所快速凝固非平衡合金国家重点实验室!沈阳,110015,中国科学院金属研究所快速凝固非平衡合金国家重点实验室!沈阳,110015,中国科学院金属研究所快速凝固非平衡合金国家重点实验室!沈阳,110015,中国科学院金属研究所快速凝固非平衡合金国家重点实验室!沈阳,11
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| 关键词 | 超微粒子
氧化层
方法
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28451
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎. 一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法[J]. 真空科学与技术,1994(2):103-106.
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| APA |
陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎.(1994).一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法.真空科学与技术(2),103-106.
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| MLA |
陈健,孙秀魁,陈文绣,杨明川,胡壮麒,魏文铎."一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法".真空科学与技术 .2(1994):103-106.
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