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	平板单面剥层X射线应力测定中的幂级数校正
	康增桥; 李家宝; 王中光
	1992-12-30
发表期刊	实验力学
期号	4页码:293-298
摘要	在具有矩形截面的平板或棒材的单面剥层 X 射线应力测定中,可以用幂级数来分段近似沿层深变化的剥离面的实测应力曲线,从而计算剥层所产生的附加应力,求得原始真实应力沿厚度方向的分布。文中给出了计算应力校正量的公式,并且用两个实测例说明,用项数不多的幂级数来近似实测曲线,就能得到足够高的近似程度.这种近似对计算结果的影响远小于 X 射线应力测量误差的影响.
部门归属	中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室,中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室,中国科学院金属研究所材料疲劳与断裂国家重点实验室,
关键词	x 射线应力测定 单面剥层 幂级数近似
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28705
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	康增桥,李家宝,王中光. 平板单面剥层X射线应力测定中的幂级数校正[J]. 实验力学,1992(4):293-298.
APA	康增桥,李家宝,&王中光.(1992).平板单面剥层X射线应力测定中的幂级数校正.实验力学(4),293-298.
MLA	康增桥,et al."平板单面剥层X射线应力测定中的幂级数校正".实验力学 .4(1992):293-298.

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