| 激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析 |
| 刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢
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| 1992-10-27
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| 发表期刊 | 光谱学与光谱分析
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| 期号 | 5页码:35-40 |
| 摘要 | 应用辉光放电发射光谱(GD-OES)对经过激光处理的材料进行了表面逐层分析,深度达371μm,得到了所有5种合金元素Fe、Cr、Ni、B和Si的含量随深度变化的分布曲线。 |
| 部门归属 | 中国进出口商品检验技术研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,上海工业大学 100025 北京,110015 沈阳,110015 沈阳,200072 上海
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| 关键词 | 辉光放电
原子发射光谱
表面分析
逐层
激光
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28745
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢. 激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析[J]. 光谱学与光谱分析,1992(5):35-40.
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| APA |
刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢.(1992).激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析.光谱学与光谱分析(5),35-40.
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| MLA |
刘圣麟,张功杼,任建世,王桢枢."激光处理样品的辉光放电发射光谱表面逐层分析".光谱学与光谱分析 .5(1992):35-40.
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