利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布

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	利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布
	李家宝,康增桥,王中光
	1992-06-29
发表期刊	力学与实践
期号	3 页码:41-44
摘要	在具有矩形截面的平板或棒材的双面剥层X射线应力测定中,可以用幂级数来分段近似沿厚度方向变化的剥离面的实测应力曲线,从而计算剥层所产生的附加应力,求得原始真实应力沿厚度方向的分布.文中给出计算应力校正量的公式,并且用实测例说明,用项数不多的幂级数来近似实测应力曲线,就能得到足够高的近似程度,获得令人满意的校正结果.
部门归属	中国科学院金属研究所材料疲劳与失效分析国家重点实验室,中国科学院金属研究所材料疲劳与失效分析国家重点实验室,中国科学院金属研究所材料疲劳与失效分析国家重点实验室 110015,沈阳,110015,沈阳,110015,沈阳
关键词	X射线应力测定双面剥层残余应力分布
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28819
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	李家宝,康增桥,王中光. 利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布[J]. 力学与实践,1992(3):41-44.
APA	李家宝,康增桥,王中光.(1992).利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布.力学与实践(3),41-44.
MLA	李家宝,康增桥,王中光."利用双面剥层X射线应力测定技术测量板状试样的残余应力分布".力学与实践 .3(1992):41-44.