Al-Cu-Mg合金中S′相生长微观机制的高分辨电子显微术研究

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	Al-Cu-Mg合金中S′相生长微观机制的高分辨电子显微术研究
	金延; 李春志; 颜鸣皋
	1990-12-31
发表期刊	航空材料学报
期号	S1 页码:59-66
摘要	本文用高分辨电子显微术(HREM)研究了A1-Cu-Mg合金中S’相界面结构和生长微观机理。研究发现,s’相(001)和(010)界面均存在界面错配位错(BMD),但只有(001)s’界面存在生长台阶,对BMD柏氏矢量及其相互作用的理论计算表明,(001)s’界面上BMD相互吸引,(010)s’界面上BMD相互排斥,据此进一步提出了一种S’相台阶生长机制。
部门归属	中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所北京航空材料研究所,北京航空材料研究所,北京航空材料研究所
关键词	高分辨电子显微术:6119 生长台阶:3681 相界面结构:3606 微观机制:3323 相互作用:2681 生长机制:2230 合金:2107 界面错配位错:1758 矢量:1751 理论计算:1474
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29034
专题	中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	金延,李春志,颜鸣皋. Al-Cu-Mg合金中S′相生长微观机制的高分辨电子显微术研究[J]. 航空材料学报,1990(S1):59-66.
APA	金延,李春志,&颜鸣皋.(1990).Al-Cu-Mg合金中S′相生长微观机制的高分辨电子显微术研究.航空材料学报(S1),59-66.
MLA	金延,et al."Al-Cu-Mg合金中S′相生长微观机制的高分辨电子显微术研究".航空材料学报 .S1(1990):59-66.