| 电子束轰击下的试样的热效应 |
| 刘敏; 徐乐荧
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| 1990-06-30
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | 3页码:155 |
| 摘要 | <正> 本文针对电子探针和透射电镜的情况,研究了电子束轰击下产生的热效应,提出了物理模型,计算了试样的温升,并用不同的实验进行了验证。在电子探针分析中,电子束轰击产生的热量可认为来源于试样中半径为r_0的半球正中,即产生于电子运动范围内,在这区域不同地方产生的热量不一样。假定在电子束半径R_0内,样品的热产生率一定,为常数a,而在R_0—r_0范围内则线性下降,即单位体积中热产生率函数: |
| 部门归属 | 中科院金属研究所,中科院金属研究所,
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| 关键词 | 电子束轰击:6206
热效应:4230
透射电镜:3101
电子探针分析:2531
运动范围:2493
物理模型:2486
产生率:2250
试样:2130
中半径:1676
热量:1654
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29110
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
刘敏,徐乐荧. 电子束轰击下的试样的热效应[J]. 电子显微学报,1990(3):155.
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| APA |
刘敏,&徐乐荧.(1990).电子束轰击下的试样的热效应.电子显微学报(3),155.
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| MLA |
刘敏,et al."电子束轰击下的试样的热效应".电子显微学报 .3(1990):155.
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