| 场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用 | |
| 任大刚 | |
| 1989-12-27 | |
| 发表期刊 | 材料科学进展
 |
| 期号 | 6页码:523-529 |
| 摘要 | 本文将场离子显微镜原子探针(FIM-AP)应用于材料微结构研究,包括氢与难熔金属表面相互作用及在奥氏体不锈钢中扩散、掺杂钨丝晶界观察、Mo 合金短程有序化及磁性材料沉淀相结构研究。讨论了 FIM-AP 在材料科学研究中应用的前景和存在问题。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所 |
| 关键词 | 场离子显微镜 原子探针 微观结构 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29185 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任大刚. 场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用[J]. 材料科学进展,1989(6):523-529. |
| APA | 任大刚.(1989).场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用.材料科学进展(6),523-529. |
| MLA | 任大刚."场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用".材料科学进展 .6(1989):523-529. |
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