| 大角度晶界的正电子湮没研究 |
| 周先意,蒋惠林,王淑英,姜健,龙期威
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| 1989-11-27
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发表期刊 | 核技术
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期号 | 11页码:638-642 |
摘要 | 从两态捕获模型出发,导出了正电子平均寿命与晶粒大小之间的关系,并且预言了晶界正电子饱和捕获效应的存在。在实验上,通过对Zn-22wt%Al合金大角度晶界正电子捕获效应的观察,验证了上述关系,并对大角度晶界正电子捕获效应的一般情况予以讨论。 |
部门归属 | 中国科学技术大学,中国科学技术大学,中国科学院高能物理研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
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关键词 | 晶界
正电子寿命
饱和捕获
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文献类型 | 期刊论文
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条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29196
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专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
周先意,蒋惠林,王淑英,姜健,龙期威. 大角度晶界的正电子湮没研究[J]. 核技术,1989(11):638-642.
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APA |
周先意,蒋惠林,王淑英,姜健,龙期威.(1989).大角度晶界的正电子湮没研究.核技术(11),638-642.
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MLA |
周先意,蒋惠林,王淑英,姜健,龙期威."大角度晶界的正电子湮没研究".核技术 .11(1989):638-642.
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