| AP-FIM研究磁性材料微结构 |
| 任大刚; 刘治国
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| 1988-08-28
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| 发表期刊 | 电子显微学报
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| 期号 | 4页码:53-57 |
| 摘要 | 场离子显微镜(FIM)是一种具有高分辨高放大倍数且能直接观察到固体表面单个原子的技术,将FIM与飞行时间质谱计配合构成原子探针——场离子显微镜(AP-F_2M)可鉴别极微区域(几nm)的化学成份,因此是研究材料微结构的有力工具。本文用AP-FIM研究了Al-Ni-Co永磁材料的微结构。用场离子显微镜观察了合金中沉淀相的形貌并用原子探针测定了不同沉淀相的化学成份及数量合金元素在沉淀相中分布。结果表明,合金中存在富铝相,富镍-钴相铁-钴-镍桐,少量Ce及Cu分布在富镍-钴相中。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,南京大学物理系 沈阳,南京
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| 关键词 | 沉淀相:5665
材料微结构:4384
场离子显微镜:3612
化学成份:3132
原子探针:3071
合金元素:2148
磁性材料:2144
永磁材料:1632
相结构:1515
剩余磁化强度:1484
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29318
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
任大刚,刘治国. AP-FIM研究磁性材料微结构[J]. 电子显微学报,1988(4):53-57.
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| APA |
任大刚,&刘治国.(1988).AP-FIM研究磁性材料微结构.电子显微学报(4),53-57.
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| MLA |
任大刚,et al."AP-FIM研究磁性材料微结构".电子显微学报 .4(1988):53-57.
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