非晶合金正电子湮没寿命谱参数微小变化的精确测定 | |
熊良钺 | |
1986-05-31 | |
Source Publication | 高能物理与核物理
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Issue | 5Pages:513-518 |
Abstract | 本文以测定非晶态材料退火后正电子寿命的变化为例,描述精确测定正电子湮没寿命谱参数微小变化的方法。通过模拟计算所得理想差分分布与测量的差分分布相比较,肯定金属玻璃Fe_(67)Co_(18)Si_1B_(14)在200℃、300℃和375℃退火两小时后,正电子平均寿命相对于原始态分别降低了0ps、4.0ps和4.3ps。 |
description.department | 中国科学院金属研究所, |
Keyword | 差分分布:5015 正电子湮没寿命:4198 模拟计算:3601 非晶合金:3439 正电子寿命:3055 平均寿命:2430 谱参数:2398 精确测定:2334 金属玻璃:1760 寿命变化:1694 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29604 |
Collection | 中国科学院金属研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 熊良钺. 非晶合金正电子湮没寿命谱参数微小变化的精确测定[J]. 高能物理与核物理,1986(5):513-518. |
APA | 熊良钺.(1986).非晶合金正电子湮没寿命谱参数微小变化的精确测定.高能物理与核物理(5),513-518. |
MLA | 熊良钺."非晶合金正电子湮没寿命谱参数微小变化的精确测定".高能物理与核物理 .5(1986):513-518. |
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