| 二硫化钛电输运过程中的散射机制 |
| 陈昕,何青,王桢枢,周熙宁
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| 1985-01-31
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发表期刊 | 半导体学报
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期号 | 1页码:25-31 |
摘要 | 针对TiS_2电输运性质中散射机制的争论,我们测量了化学计量TiS_2的单晶、多晶粉末,和非化学计量的多晶粉末的热电势率S(T)(温度T在90-400K之间). 将载流子-载流子散射和Fivaz同极光学声子散射这两种模型的计算结果分别与S(T)的实验值进行了比较,认为能同时对S(T)和ρ(T)给出比较满意的解释的是Fivaz同极光学声子散射说. |
部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
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关键词 | 散射机制:6545
二硫化钛:4347
输运过程:3745
光学声子:2434
电阻率:2297
热电势率:2217
层型结构:1600
迁移率:1476
非化学计量:1433
散射模型:1142
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文献类型 | 期刊论文
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条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29712
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专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
陈昕,何青,王桢枢,周熙宁. 二硫化钛电输运过程中的散射机制[J]. 半导体学报,1985(1):25-31.
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APA |
陈昕,何青,王桢枢,周熙宁.(1985).二硫化钛电输运过程中的散射机制.半导体学报(1),25-31.
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MLA |
陈昕,何青,王桢枢,周熙宁."二硫化钛电输运过程中的散射机制".半导体学报 .1(1985):25-31.
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