| 俄歇能谱的基本原理及应用 | |
| 任大刚 | |
| 1980-08-28 | |
| Source Publication | 稀有金属
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| Issue | 4Pages:61-66 |
| Abstract | <正> 最近十年来,固体表面分析技术得到迅速发展。这一方面是由于六十年代以来,超高真空技术的重大进展,比较容易获得10~(10)托的超高真空,有可能制备固体的“清洁”表面。从七十年代以来,商品能谱仪器开始生产,为表面分析提供了有力的工具。另一方面,固体表面分析技术与现代科 |
| description.department | 中国科学院金属研究所, |
| Keyword | 俄歇能谱:5768 俄歇电子能谱:3598 表面分析技术:3112 电子伏:2943 基本原理:2674 电子束:2641 固体表面:2533 晶界偏析:2321 六十年代:2199 表面元素:2156 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/30017 |
| Collection | 中国科学院金属研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 任大刚. 俄歇能谱的基本原理及应用[J]. 稀有金属,1980(4):61-66. |
| APA | 任大刚.(1980).俄歇能谱的基本原理及应用.稀有金属(4),61-66. |
| MLA | 任大刚."俄歇能谱的基本原理及应用".稀有金属 .4(1980):61-66. |
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