| SiC多型体的点阵象 |
| 叶恒强,周敬,郭可信
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| 1980-03-01
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| 发表期刊 | 科学通报
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| 期号 | 4页码:164-166 |
| 摘要 | <正> X射线衍射及电子衍射分析虽然可以给出很精确的晶体结构资料,但都是大量单胞的平均结果。利用电子显微镜的高分辨率。可以直接拍摄点阵象,揭示晶体点阵的周期性。一维点阵象能显示不同厚度的各种层状单元的堆垛顺序,特别适用于研究层状结构。例如,对于YSeF进行的X射线研究发现有8种多型体,由于只分离出3种多型体的单晶体,因此只能确定其中3种多型体的结构。用电子显微镜拍摄微晶的点阵象,不但确定了X射线已经发现的 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
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| 关键词 | 多型体:8998
电子显微镜:2790
晶体点阵:2725
X射线衍射:1184
晶体结构:985
堆垛顺序:796
层状结构:536
不同厚度:458
单晶体:411
周期性:372
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/30040
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
叶恒强,周敬,郭可信. SiC多型体的点阵象[J]. 科学通报,1980(4):164-166.
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| APA |
叶恒强,周敬,郭可信.(1980).SiC多型体的点阵象.科学通报(4),164-166.
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| MLA |
叶恒强,周敬,郭可信."SiC多型体的点阵象".科学通报 .4(1980):164-166.
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