| 有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系 |
| 何怡贞,徐升美
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| 1958-01-31
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| 发表期刊 | 物理学报
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| 期号 | 1页码:54-63 |
| 摘要 | 谱线强度(I)与物质浓度(C)之间的定量关系是定量光谱分析的物理基础。由于实际光源中的谱线或多或少地都有自吸收现象,所以在实际情形下,I与C的关系是较为复杂的。 本文中应用迁移取样法进行铸铁中的硅的光谱分析,选择了适当的条件,使Si2516多重谱线系中的Si2519线在光源中不发生自吸收,因而可以用它的强度代表光源中的物质浓度,同时测定了多重谱线系中发生自吸收最严重的Si2516线的定标曲线斜度b与物质浓度C的关系(b=klogC+β+1),从而得出I与C的关系式如下: IogI=k/2(logC)~2+(β+1)logC+α,这里β与α是试验条件下的两个常数;k是b与logI_(2519)的关系直线的斜度。在理想的情形,当谱线没有自吸收时,b=1,k=0,所以logI与logC之间便有直线的关系;当谱线有自吸收时,谱线的强度与物质的浓度有抛物线的关系。这个关系式所描述的与在较大浓度范围内一般实验中所观察的一致。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所
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| 关键词 | 自吸收:7613
定标:3710
时谱:2261
物质浓度:2253
预燃:2129
线强度:2108
迁移电流:2023
取样法:1934
弧柱:794
分析元素:792
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/30154
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
何怡贞,徐升美. 有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系[J]. 物理学报,1958(1):54-63.
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| APA |
何怡贞,徐升美.(1958).有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系.物理学报(1),54-63.
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何怡贞,徐升美."有自吸收现象时谱线强度与物质浓度的关系".物理学报 .1(1958):54-63.
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