电子背散射衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法 | |
彭胜, 袁改焕, 王练, 李明远, 李阁平, 岳强, 李刚, 高博 and 庞丽侠 | |
2013-02-13 | |
专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
公开日期 | 2013-02-13 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
摘要 | 本发明公开了电子背散射衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法,通过制样、磨光、电解抛光、洗净后采用电子背散射衍射分析技术观察,通过单次测试标定率>90%,计算得到锆合金样品科恩系数。本发明测试速度快,处理简单,一次测试可获得三个方向的科恩系数,解决了无锆合金标样测试锆合金科恩系数的问题。 |
语种 | 中文 |
专利状态 | 公开 |
申请号 | CN102928449A |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/65928 |
专题 | 中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 彭胜, 袁改焕, 王练, 李明远, 李阁平, 岳强, 李刚, 高博 and 庞丽侠. 电子背散射衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法[P]. 2013-02-13. |
条目包含的文件 | 条目无相关文件。 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论