一种低温制备大块致密高纯单相Y2SiO5陶瓷块体材料的方法 | |
周延春, 孙子其 and 李美栓 | |
2008-03-19 | |
专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
公开日期 | 2008-03-19 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明专利 |
摘要 | 本发明涉及高纯Y2SiO5新陶瓷材料的制备技术,具体为一种低温制备大块致 密高纯单相Y2SiO5陶瓷材料的方法。在原料Y2O3和SiO2混合物中加入添加剂 LiYO2,添加剂的含量为Y2O3、SiO2和LiYO2总质量的0.2~10.0%。混合均匀后, 进行煅烧,煅烧温度为1250℃~1600℃,煅烧时间为1~... |
语种 | 中文 |
专利状态 | 公开 |
申请号 | CN101143782 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/66684 |
专题 | 中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 周延春, 孙子其 and 李美栓. 一种低温制备大块致密高纯单相Y2SiO5陶瓷块体材料的方法[P]. 2008-03-19. |
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