| 一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法 |
| 马宗义 and 刘峰超
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| 2011-03-30
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| 专利权人 | 中国科学院金属研究所
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| 公开日期 | 2011-03-30
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明专利
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| 摘要 | 本发明涉及金属材料领域,特别提供了一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法,解决划痕相对于晶粒尺寸太宽,无法满足定量测量的需要等问题,适用于各种金属材料,包括铝合金、镁合金、锌合金、铜合金、钢铁及金属基复合材料。将拉伸样品表面通过机械或化学方法抛光后,使用纳米压痕仪在样品表面划刻出适当尺寸的划痕,划痕标记线宽度小于晶粒尺寸,标记线平行于拉伸方向；然后进行超塑性拉伸,根据变形后样品表面划痕的偏移量、晶粒尺寸及拉伸变形量,定量计算晶界滑移在细晶材料超塑性变形中的贡献。因此,本发明在超塑性变形研究方面将有着广阔的应用前景。 |
| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN101995378A
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/66726
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
马宗义 and 刘峰超. 一种定量测量细晶材料超塑变形中晶界滑移贡献的方法[P]. 2011-03-30.
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