| 一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器 |
| 蔡桂喜, 韩晓华, 刘畅, 徐华, 董瑞琪 and 贾中青
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| 2009-12-30
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专利权人 | 中国科学院金属研究所
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公开日期 | 2009-12-30
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授权国家 | 中国
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专利类型 | 发明专利
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摘要 | 一种能精确测量超薄工件厚度方法,采用信号处理的方法来提取表征工 件厚度的超声波信息,既适合于测量超薄大曲率工件厚度也适合于测量普 通工件厚度的超声测厚技术,它的核心是对接收到的回波信号进行快速傅 里叶变换从而获得测量结果;一种能精确测量超薄工件厚度方法的仪器, 由探头和主机两部分组成,主机部分包括DSP控制模块、超声波发射电路、 超声波信号接收电路,信号放大电路、闸门电路、通讯接口,液晶显示器 和键盘。本发明的优点:既适合于测量超薄大曲率工件厚度也适合于测量 普通工件厚度,可实时采集超声回波信号,实时的进行快速傅里叶变换, 实时计... |
语种 | 中文
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专利状态 | 公开
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申请号 | CN101614533
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文献类型 | 专利
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条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/67347
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专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
蔡桂喜, 韩晓华, 刘畅, 徐华, 董瑞琪 and 贾中青. 一种能精确测量超薄工件厚度方法及仪器[P]. 2009-12-30.
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