| 一种微小试样的疲劳性能测试装置 |
| 崔学顺, 曾秋莲, 郭建军, 闵家源, 王中光 and 尚建库
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| 2006-11-08
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| 专利权人 | 中国科学院金属研究所
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| 公开日期 | 2006-11-08
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 实用新型
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| 摘要 | 本实用新型涉及一种疲劳测试技术,具体地说是公开一种微小试样疲 劳性能测试装置。采用通电激磁线圈产生的磁场对微小试样进行力的加载, 具体是：将微小试样一端固定,另一端呈自由状态置于磁场中,通电激磁 线圈,使微小试样附近产生磁场,通过所述磁场对微小试样进行力的加载, 从而测试疲劳性能。采用本实用新型,加载力的大小通过调节电压和频率 来控制,可以小至1mN(0.1g力),甚至更小；实验频率可以任意调节。 与此同时,还可以在微小试样上通直流电流,可以实现对微小试样力、电 的同时加载,可以方便而有效地对微小试样的介观行为进行研究,这时试 样... |
| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN2835988
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/67607
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
崔学顺, 曾秋莲, 郭建军, 闵家源, 王中光 and 尚建库. 一种微小试样的疲劳性能测试装置[P]. 2006-11-08.
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