IMR OpenIR
一种应变测量的方法
温井龙, 谭军 and 姚戈
2012-07-11
专利权人中国科学院金属研究所
公开日期2012-07-11
授权国家中国
专利类型发明专利
摘要本发明涉及应变测量领域,具体为一种能够满足拉伸样品应变测量的方法,解决现有技术中难以揭示材料应变本征特征的应变等问题。(1)在样品表面喷涂散斑测量用喷漆;样品表面喷涂散斑测量用的喷漆应与样品表面样色形成鲜明对比;(2)在拉伸试验机上装夹样品,连接测量装置,设置测量参数,并开始试验,记录试验数据;(3)散斑测量点的大小为0.1-50μm,散斑为随机分布,测量散斑测量点的应变分布,形成带有应变梯度分布的测量报告。本发明方法给出的应变分布,对于揭示材料的本征特征有着重要的意义,具体应用散斑测量技术实现对拉伸样品表面的测量得到全场的应变分布。
语种中文
专利状态公开
申请号CN102564282A
文献类型专利
条目标识符http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/67723
专题中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
温井龙, 谭军 and 姚戈. 一种应变测量的方法[P]. 2012-07-11.
条目包含的文件
条目无相关文件。
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[温井龙, 谭军 and 姚戈]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[温井龙, 谭军 and 姚戈]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[温井龙, 谭军 and 姚戈]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。