IMR OpenIR
TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究
于荣; 贺连龙; 程志英; 朱静; 叶恒强
2002-09-01
Conference Name第十一届全国钛及钛合金学术交流会议
Source Publication金属学报第38卷增刊
Conference Date2002-09-01
Conference Place宝鸡
Publication Place沈阳
Publisher《金属学报》编辑部
Abstract用高空间分辨分析电子显微术研究了TiAl-W-Si合金中B2相的析出行为和元素W的分布.结果表明,α<,2>/γ相界面台阶由于W的富集而成为B2析出相的择尤形核位置.B2相中,高达三分之一的Al原子被W原子置换,而在γ相中只固溶了很有限的W.另外,W也偏析在α<,2>/γ和B2/γ相界面上.这些结果合理地解释了W对提高TiAl合金蠕变性能的显著作用.
description.department中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室(沈阳);清华大学材料科学与工程研究所电子显微学实验室(北京);
Keyword分析电子显微术 Tial合金 析出相 偏析 钛合金
Funding Organization中国金属学会;中国材料研究学会;中国有色金属学会
Language中文
Document Type会议论文
Identifierhttp://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70074
Collection中国科学院金属研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
于荣,贺连龙,程志英,等. TiAl-W-Si合金中的偏析与析出相的分析电子显微术研究[C]. 沈阳:《金属学报》编辑部,2002.
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