| 应用场发射扫描电镜表征纳米碳管的微观组织及其元素的定量分析 | |
| 郭延风; 朱桂秋; 朱祖铭 | |
| 2003-11-02 | |
| 会议名称 | 第二届全国扫描电子显微学会议 |
| 会议录名称 | 电子显微学报2003第22卷第6期 |
| 会议日期 | 2003-11-02 |
| 会议地点 | 珠海 |
| 出版地 | 北京 |
| 出版者 | 电子显微学报编辑部 |
| 摘要 | 冷场发射电子枪在低电压下仍保持着较高的分辨率.本文研究应用场发射扫描电镜表征纳米碳管的微观组织及其元素的定量分析. |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所(辽宁沈阳) |
| 关键词 | 纳米碳管 微观组织 扫描电镜 定量分析 |
| 主办者 | 中国物理学会 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 会议论文 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/70110 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭延风,朱桂秋,朱祖铭. 应用场发射扫描电镜表征纳米碳管的微观组织及其元素的定量分析[C]. 北京:电子显微学报编辑部,2003. |
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