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题名: 用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究
作者: 蔡桂喜;  董瑞琪
出版日期: 2004-10-14
会议日期: 2004-10-14
摘要: 采用磁介质环电流模型计算各种槽形缺陷产生的漏磁场,包括标准规定的漏磁探伤对比试件上的人工伤、磁粉探伤标准试块上的人工伤、用数学方法模拟的疲劳裂纹和被检工件表面粗糙度等产生的漏磁场.将上述各种缺陷产生的漏磁场加以比较可以看出,由于疲劳裂纹开裂的缝隙十分狭窄,它所产生的漏磁场远小于人工标准伤所产生的漏磁场,也小于表面粗糙度所产生的漏磁场.因此结论认为:用磁粉法和漏磁法探测疲劳裂纹时,需要特别谨慎.挽言之,磁粉和漏磁两种方法不适合探测开裂缝隙很窄的疲劳裂纹.
会议名称: 中国金属学会第十二届分析测试学术年会
KOS主题词: fatigue crack;  crack-edge stress field analysis
会议文集: 冶金分析(下册)
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蔡桂喜,董瑞琪. 用磁介质环电流模型对裂纹状缺陷磁粉和漏磁探伤能力的研究[C]. 冶金分析(下册).北京.中国金属学会.2004.
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